鍍層測厚儀 接插件和連接器上的鍍層 德國原裝進口 原廠渠道
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鍍層測厚儀 接插件和連接器上的鍍層 德國原裝進口 原廠渠道
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XAN系列測厚儀 XAN? 系列儀器適合測量和分析超薄鍍層,即使鍍層成分復雜或含量微小也都能測量。該系列產(chǎn)品簡單易用且性價比高,因此在同類產(chǎn)品中脫穎出。 特性: 操作簡單且性價比高。 自下而上進行測量,從而快速、簡便地定位樣品 廣泛適用:為各個行業(yè)的需求量身定制了多種型號 以非破壞性方式進行鍍層厚度測量與元素分析 帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機型,可對薄鍍層及微量成分進行精測量 應用: 鍍層厚度測量 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層 時尚首飾:對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進行分析 抗磨損鍍層,如:對化學鎳鍍層的厚度及磷含量進行測量 測試納米級基礎金屬化層(凸點下金屬化層,UBM) 材料分析 測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度 專業(yè)實驗室、檢測機構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則,檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的物質(zhì)(例如重金屬) 功能性鍍層的成分,如測定化學鎳中的磷含量 共0條 相關(guān)評論 |